(05-29-2015, 11:36 PM)Macola Wrote: Bogdane,
Testovi maksimalne discipacije se obično obavljaju impulsno (često sa t_imp=100uS), tako da na primer 90% vremena postoji impuls, a 10% vremena služi za očitavanje napona barijere pomoću nabaždarenog strujnog izvora.
Naravno, prethodno treba zagrevanjem spolja iskalibrisati diodu iz serije koja se testira.
To traje duže vreme i radi se u "inkubatoru", tj. komori sa kontrolisanom temperaturom koja se može namestiti u najmanje dve temperaturne pouzdane tačke.
Tako se testiraju komponente sa jednom ili dve PN barijere.
Bogdane,
Znam da odlično znaš graničnu Tj, no ono na šta želeh da ti ukažem je validan način za merenje. Odnosno najdirektnije što može.
Sa PWM od na primer 90% lako se proračuna srednja snaga uneta u spoj (0.9 x Ppk) a za oni preostalih 10% vremena može se pristojnim A/D konvertorom očitati napon barijere u cilju merenja temperature.
Ako nemaš brz A/D onda se to sasvim lako uzorkuje sample-hold kolom.
Sa sample-hold se može i sa duty 99%.
Jedan strujni izvor od npr 1mA koji sve vreme teče u DUT, još jedan podesiv i taktovan sa PWM, koji zagreva DUT, i to je to.
Kao što reče Branko Tod, LED prave od raznih materijala te je neophodno (kao što napisah) baždarenje po jednom uzorku iz serije.
U jednoj seriji su sve od istog materijala i imaju zajedničku temperaturnu zavisnost.
Tako se na primer testiraju i tranzistori, tiristori i slično. Pulsnom metodom se meri i tranzijentna termička otpornost, čiji dijagram imaš maltene za svaki power poluprovodnik.
Način je ono što sam ti hteo reći...
P.S.
Osim toga, pulsnom metodom se takođe sasvim lako utvrdi i veličina Ri na LED.